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ST-20掌上型方塊電阻測試儀

更新時間：2020-05-21 點(diǎn)擊次數(shù)：1201

ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特點(diǎn)：

采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準(zhǔn)確穩(wěn)定

低功耗

采用單個電池供電，帶電池欠壓指示

儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm

特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜

探頭帶抗靜電模塊

◆ 技術(shù)指標(biāo)：

測量范圍	基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口) 擴(kuò)展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)
測量不確定度	≤5%
探針規(guī)格	探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
恒流源	測量過程誤差：≤±0.8%
電源	9V疊層電池1節(jié)

深圳市偉峰儀器儀表有限公司

地址：深圳市寶安區(qū)沙井街道步涌社區(qū)新和大道129號-177號(單號)E1306

郵箱：weifeng1718@163.com

傳真：86-0755-61605261

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ST-20掌上型方塊電阻測試儀